| Noticias | 13 OCT 2006

Conferencia Internacional sobre Testing y Calidad de Software

QA&TEST 2006, Conferencia Internacional sobre Testing y Calidad de Software se celebrará los próximos días 18, 19 y 20 de octubre en el Palacio de Congresos y de la Música Euskalduna Jauregia de Bilbao.
CIO
El Comité de Expertos de QA&TEST ha decidido enfocar la conferencia de este año en el área de software embebido. En la conferencia participarán expertos de fama internacional como Lawrence E.Day (Boeing) o Gabriel A.Wainer (Universidad Carleton de Canadá). Day y Wainer abrirán el programa de QA&TEST con sendos tutoriales bajo los títulos “Inspecciones de Software Ágiles” y “Aplicación de la Técnica Model-Driven para el Desarrollo y Proceso de Pruebas de Sistemas Embebidos” respectivamente. QA&TEST 2006 incluirá también conferencias magistrales sobre ITIL y sobre cómo ampliar y mejorar las capacidades de desarrollo de pruebas.

El programa de esta edición se estructurará en torno a seis bloques temáticos: Calidad en Sistemas Embebidos; Gestión de Requisitos; Técnicas y Procesos de Testing; Testing de Sistemas en Tiempo Real; Automatización de las Pruebas y Testing; y Estrategias de Certificación.

QA&TEST 2006
Fecha: 18,19 y 20 de octubre
Lugar de celebración: Bilbao
www.gatest.org

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